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★符合标准： 试验线路及试验方法满足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相关标准要求。 ★适用范围： 系统能满足各种封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET等高温反偏试验。 ★主要特点：

★符合标准： 符合MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准要求。 ★适用范围： 适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、逻辑电路

★符合标准： 符合MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准要求。 ★适用范围： 适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、逻辑电路

★符合标准： 符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101等试验标准要求。 ★适用范围： 适用于各种封装的IGBT模块进行K系数测试、稳态热阻测试及功率循环试验。 ★技术特点： ①在试验的过

★符合标准： 符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101等试验标准要求。 ★适用范围： 适用于各种封装的IGBT模块进行K系数测试、稳态热阻测试及功率循环试验。 ★技术特点： ①在试验的过

★符合标准： 符合MIL-STD-750、GJB-128等试验标准。 ★适用范围： 适用于F型、TO-3P/TO220、G型封装的大功率三极管、MOS管等进行功率老化试验。 ★技术特点： ①圆形散热平台，试验器件分