存储器高温老化系统

存储器高温老化系统

★符合标准:
符合MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准要求。
★适用范围:
系统适用于各种封装形式的SRAM,DRAM,SDRAM ,FLASH,DDR,RDRAM等器件进行高温动态老化筛选,并且在老化过程中对被试验器件(DUT)进行功能测试(TDBI)。
★适用范围:
①一板一区,可满足16种不同试验参数的器件同时老化。
②具有强大的图形发生及图形测试能力。
③可根据用户的需求,定制各种老化板及测试程序。

★主要技术规格和性能  
产品型号 GK-MHDT-B16
产品名称 存储器高温动态老化测试系统
高温试验箱 GWS或ESPEC产PH-201大容量高温试验箱一台,内箱尺寸:60cm×60cm×60cm,水平风道设计。
试验区域 16个 (一板一区)
试验容量 每个试验通道为24的整数倍,以8位存储器为例,老化测试工位最多可达到24×8=192片,整机可到达192×16=3072片。
一级电源 标配8台12V/80A程控数字电源。
试验电源过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能,确保试验电源的可靠性。
计算机实时检测并记录电源的输出电压、电流,便于试验监控。
二级电源 ①每个试验通道提供独立程控的VCC1、VCC2、VMUX、VCLK四路二级电源;
②每路二级电源具有过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能。
③输出能力:±0.00V~±6.00V/10A;分辨率:10mV;纹波(RMS)≤10mV;负载变化率≤0.1%FS±20mV;
④电源监测:实时监测记录二级电源的电压,并可生成图形曲线,便于试验监控。
数字信号 ①数据/地址:64路双向I/O,24路地址线。
②控制信号:8路CLK时钟线,16路片CS选线。
③信号频率:最高频率10MHz驱动能力:IOL≥30mA、IOH≥30mA;1.8V≤VOH④≤5.5V、VOL≤0.3V ;Tr≤25ns、Tf≤25ns。
图形测试 扫描法(含全0全1、棋盘格、奇偶图形)、地址后退法、地址互补法、行走、跳步、移动对角线、写入恢复等;
计算机 工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。WINDOWS操作界面,友好的人机对话窗口, 强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择,软件操作简单易学。更有系统查询诊断功能, 试验状况一目了然,方便用户随时查验。
老化板 多达几百种按军标要求设计的老化试验板供用户选择,各种基板和老化座均耐高温、抗氧化、耐疲劳。
电网要求 单相AC220V±10%,47Hz~63Hz,6KW
外形尺寸 W1360mmхH1820mmхD1320mm
重量 约500kg 

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