可靠性试验设备

★符合标准： 符合MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准要求。 ★适用范围： 适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、逻辑电路

★符合标准： 符合MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准要求。 ★适用范围： 适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、逻辑电路

★符合标准： 符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101等试验标准要求。 ★适用范围： 适用于各种封装的IGBT模块进行K系数测试、稳态热阻测试及功率循环试验。 ★技术特点： ①在试验的过

★符合标准： 符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101等试验标准要求。 ★适用范围： 适用于各种封装的IGBT模块进行K系数测试、稳态热阻测试及功率循环试验。 ★技术特点： ①在试验的过

★符合标准： 符合MIL-STD-750、GJB-128等试验标准。 ★适用范围： 适用于F型、TO-3P/TO220、G型封装的大功率三极管、MOS管等进行功率老化试验。 ★技术特点： ①圆形散热平台，试验器件分

★符合标准： 符合MIL-STD-750D、GJB128、-JEDEC等试验标准要求。 ★适用范围： 系系统能满足各种封装形式中、小功率的LED稳态寿命试验，间歇寿命试验以及电流冲击老化筛选试验。 ★技术特点