高温反偏/高温栅偏试验系统（HTRB/HTGB）

GK-HTRB-M8(带结温测试)

★符合标准： 试验线路及试验方法满足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相关标准要求。 ★适用范围： 系统能满足各种封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET等高温反偏试验。

GK-HTRB-C8

★符合标准： 试验线路及试验方法满足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相关标准要求。 ★适用范围： 系统能满足各种封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET等高温反偏试验。 ★主要特点：

GK-HTRB-T8(带结温测试)

★符合标准： 试验线路及试验方法满足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相关标准要求。 ★适用范围： 系统能满足各种封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET等高温反偏试验。 ★主要特点：

GK-HTRB-M16

★符合标准： 试验线路及试验方法满足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相关标准要求。 ★适用范围： 系统能满足各种封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET等高温反偏试验。 ★主要特点：

GK-HTRB-C16

★符合标准： 试验线路及试验方法满足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相关标准要求。 ★适用范围： 系统能满足各种封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET等高温反偏试验。 ★主要特点：

GK-HTGB-C4

★符合标准： 符合MIL-STD-750、AEC-Q101等试验标准要求。 ★适用范围： 系统能满足各种封装形式的MOSFET、IGBT等器件的高温栅偏试验。
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