GK-ICDT-B8
GK-ICDT-B8
| ★符合标准： | |
| 符合MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准要求。 | |
| ★适用范围： | |
| 适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、逻辑电路、可编程器件、存储器、A/D、D/A等器件的工作寿命试验和高温动态老炼筛选。 | |
| ★技术特点： | |
| ①一板一区，可满足16种不同试验参数的器件同时老化。 | |
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②强大的图形发生系统，每板有可编程的64路数字信号和 4路模拟信号。 |
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| ③完善、标准的老化器件库及各种老化板，解决了用户的后顾之忧。 |
| ★主要技术规格和性能: | ||
| 产品型号 | GK-ICDT-B8 | |
| 产品名称 | 集成电路高温动态老化系统 | |
| 高温试验箱 |
LC-213高温箱一台， 内箱尺寸： 45cm×45cm×45cm，垂直风道设计。 |
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| 试验区域 | 8个 （一板一区） | |
| 试验容量 | 136×8=1088位（以DIP14为例） | |
| 一级电源 | 标配4路25V/40A或40V/25A的程控数字电源可选。 | |
| 试验电源过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能，确保试验电源的可靠性。 | ||
| 计算机实时检测并记录电源的输出电压、电流，便于试验监控。 | ||
| 二级电源 | ① 每个通道供独立程控的VCC、VMUX、VCLK、VEE四路二级电源。 | |
| ②每路二级电源具有过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能。 | ||
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③ 输出能力：±1.00V～±40.00V/10A（高压配置）；程控分辨率：10mV；纹波（RMS）≤10mV； 负载变化率≤0.1%FS±20mV。 |
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| ④电源监测：实时监测记录二级电源的电压，并可生成图形曲线，便于试验监控。 | ||
| 数字信号 | ①每个通道：64路数字信号； | |
| ② 编程能力：编程深度256Kbit；最小编程步长：100ns；编程分辨率：100ns；最高信号频率：5MHz； | ||
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③ 寻址能力：可寻址64Gbit(老化ROM/SRAM等) A00～A35, 可寻址行列地址刷新器件64Gbit （老化DRAM/SDRAM 等）AXX～A17，AYY：A00～A17； |
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| ④ 信号特性：每路均具有数据、地址、控制、三态属性编辑功能； | ||
| ⑤ 驱动能力：IOL≥300mA、IOH≥100mA、Tr≤50ns、Tf≤50ns。 | ||
| 模拟信号 | ① 模拟信号数：2路或4路； | |
| ② 波形类型：正弦波、三角波、前沿锯齿波、后沿锯齿波、矩形波； | ||
| ③ 模拟信号指标：信号可编程频率：1Hz～32KHz，程控幅度范围Vpp：0～±10V， 直流偏移量范围Vdc：0～1/2 Vpp，编程步长: 0.01V，驱动能力：≥1.0A。 | ||
| 计算机 | 工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。WINDOWS操作界面，友好的人机对话窗口， 强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择，软件操作简单易学。更有系统查询诊断功能， 试验状况一目了然，方便用户随时查验。 | |
| 老化板 | 多达几百种按军标要求设计的老化试验板供用户选择，各种基板和老化座均耐高温、抗氧化、耐疲劳。 | |
| 电网要求 | 单相AC220V±10%，47Hz~63Hz，3KW | |
| 外形尺寸 | W720mmхH1620mmхD1060mm | |
| 重量 | 约300kg | |