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  GK-ICDT-B16集成电路高温动态老化系统
适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、逻辑电路、可编程器件、存储器、A/D、D/A等器件的工作寿命试验和高温动态老炼筛选。
技术特点：
①一板一区，可满足16种不同试验参数的器件同时老化。
②强大的图形发生系统，每板有可编程的64路数字信号和
4路模拟信号。
③完善、标准的老化器件库及各种老化板，解决了用户的后顾之忧。
heating
高温加热
内部加热 保持不坏
真金不怕火炼，超强耐高温
超级耐高温
保持高品质
内部加热原理
服务热线
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联系邮箱：gk@hzgkdz.com
公司地址:浙江省杭州市余杭区闲林工业园裕丰路7号

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