高温反偏试验系统
系统能满足各种封装形式的二极管、三极管、半桥、场效应管、可控硅、IGBT等系列器件在高温高湿环境下进行反向偏压试验。
集成电路高温动态老化系统
适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、逻辑电路、可编程器件、存储器、A/D、D/A等器件的工作寿命试验和高温动态老炼筛选。
间歇寿命试验系统
适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFET、IGBT等器件的间歇寿命试验和稳态寿命试验。
GK-H3TRB
高温高湿反偏试验系统
系统能满足各种封装形式的二极管、三极管、半桥、场效应管、可控硅、IGBT等系列器件在高温高湿环境下进行反向偏压试验。
高温栅偏实验系统
系统能满足各种封装形式的MOSFET、IGBT等器件的高温栅偏试验。
IGBT功率循环
适用于各种封装的IGBT模块进行K系数测试、稳态热阻测试及功率循环试验。
存储器高温动态老化测试系统
系统适用于各种封装形式的SRAM，DRAM，SDRAM ，FLASH，DDR，RDRAM等器件进行高温动态老化筛选，并且在老化过程中对被试验器件(DUT)进行功能测试(TDBI)。
三端稳压器老化系统
系统能满足各种封装形式（包括SMD表面贴装）的78XX、79XX、117、137、200等系列固定、可调三端稳压器老化筛选和寿命试验。
稳压管 SSOP 试验系统
系统适用于各种封装的稳压管（Zener）进行稳态运行功率（SSOP）试验。
大功率晶体管老化系统
适用于F型、TO-3P/TO220、G型封装的大功率三极管、MOS管等进行功率老化试验。
电源模块高温老化试验系统
适用于各种中小功率单路、多路正负输出的DC/DC、AC/DC电源模块进行高温恒流老化试验。
钽电容器高温老化系统
适用于各种封装形式的钽电容器、电解电容器、独石电容器、云母电容器、陶瓷电容器、纸介电容器、薄膜电容器和金属化纸介电容器（包括SMT表面贴装）等器件的工作寿命试验和高温老炼筛选。
LED高温老化系统
系统能满足各种封装形式（包括SMD表面贴装）的78XX、79XX、117、137、200等系列固定、可调三端稳压器老化筛选和寿命试验。
热阻测试系统
适用各种封装外形的二极管、三极管、整流桥、SCR、MOSFET、IGBT的K系数测试和热阻测试。
分立器件综合老化试验系统
适用于各种封装（包括表面贴装）形式的中、小功率二极管、三极管、场效应管、可控硅、集成稳压器、光电耦合器、电阻等元器件的稳态寿命试验（CFOL）和间歇寿命试验（IFOL）和功率老炼筛选。
电容脉冲放电测试系统
可适用于各种外形的车用二极管进行电容放电脉冲冲击试验。
浙公网安备 888883020888号