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GK-IGBT-3000AIGBT功率循环
适用于各种封装的IGBT模块进行K系数测试、稳态热阻测试及功率循环试验。
技术特点：
1、高精度和高稳定性，可替代国外设备；
2、采样速率1MHz/s；最快1us去掉加热电流；
3、支持双界面热阻测试和结构函数测试；
4、支持多种方式实现SiC器件功率循环；
heating
高温加热
内部加热 保持不坏
真金不怕火炼，超强耐高温
超级耐高温
保持高品质
内部加热原理
服务热线
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联系邮箱：gk@hzgkdz.com
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