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GK-MHDT-B16存储器高温动态老化测试系统
系统适用于各种封装形式的SRAM，DRAM，SDRAM ，FLASH，DDR，RDRAM等器件进行高温动态老化筛选，并且在老化过程中对被试验器件(DUT)进行功能测试(TDBI)。
技术特点：
①一板一区，可满足16种不同试验参数的器件同时老化。
②具有强大的图形发生及图形测试能力。
③可根据用户的需求，定制各种老化板及测试程序。
heating
高温加热
内部加热 保持不坏
真金不怕火炼，超强耐高温
超级耐高温
保持高品质
内部加热原理
服务热线
0571-8585 6333
联系邮箱：gk@hzgkdz.com
公司地址:浙江省杭州市余杭区闲林工业园裕丰路7号

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