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GK-PC-X16间歇寿命试验系统
适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFET、IGBT等器件的间歇寿命试验和稳态寿命试验。
技术特点：
①在试验的过程中实时测量样品的结温，并显示结温差。
②采用模块化设计，每个模块是一个独立试验单元。每个模块有独立的试验腔体，真正做到板与板之间完全独立。每个试验单元的风道互不影响。
③在调试模式下，无论是开通状态还是关断状态下，均可以每隔一秒采集一次结温Tj，描绘出完整的温度变化曲线。可以防止在寻找试验条件时损坏器件。
④三极管的试验线路采用共基极试验线路，更能满足宇航级产品的试验要求。
⑤设备上可配置K系数测试装置。
heating
高温加热
内部加热 保持不坏
真金不怕火炼，超强耐高温
超级耐高温
保持高品质
内部加热原理
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