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Semiconductor discrete device 半导体分立器件试验设备 Passive component test equipment 被动元件试验设备 Monitoring system 设备集中监视系统 Internet of things platform 物联网平台 test equipment 试验设备
半导体分立器件试验设备
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存储器高温动态老化测试系统
系统适用于各种封装形式的SRAM，DRAM，SDRAM ，FLASH，DDR，RDRAM等器件进行高温动态老化筛选，并且在老化过程中对被试验器件(DUT)进行功能测试(TDBI)。
三端稳压器老化系统
系统能满足各种封装形式（包括SMD表面贴装）的78XX、79XX、117、137、200等系列固定、可调三端稳压器老化筛选和寿命试验。
稳压管 SSOP 试验系统
系统适用于各种封装的稳压管（Zener）进行稳态运行功率（SSOP）试验。
大功率晶体管老化系统
适用于F型、TO-3P/TO220、G型封装的大功率三极管、MOS管等进行功率老化试验。
电源模块高温老化试验系统
适用于各种中小功率单路、多路正负输出的DC/DC、AC/DC电源模块进行高温恒流老化试验。
钽电容器高温老化系统
适用于各种封装形式的钽电容器、电解电容器、独石电容器、云母电容器、陶瓷电容器、纸介电容器、薄膜电容器和金属化纸介电容器（包括SMT表面贴装）等器件的工作寿命试验和高温老炼筛选。
服务热线
0571-8585 6333
联系邮箱：gk@hzgkdz.com
公司地址:浙江省杭州市余杭区闲林工业园裕丰路7号

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